División de Difracción y Fluorescencia de Rayos X
DESCRIPCIÓN
Instrumental para el desarrollo de técnicas analíticas de difracción de rayos X para la caracterización de materiales y control de calidad de materiales cristalinos y no cristalinos tales como muestras pulverizadas, sólidas, nanopartículas y películas delgadas y, de fluorescencia de rayos X para llevar a cabo el análisis elemental en muestras pulverizadas o sólidas.
LÍNEAS DE INVESTIGACIÓN
• Estudio del comportamiento frente a la corrosión de aleaciones metálicas.
• Síntesis de Nanomateriales.
• Mineralogía, Arqueometría y Geoarqueología.
• Materiales constructivos y materias primas minerales.
• Patrimonio histórico y artístico.
• Síntesis, caracterización y propiedades mecánicas de sono-aerogeles híbridos inorgánicos/orgánicos.
• Estudios estructurales de geles.
• Aerogeles con aplicaciones medioambientales: captadores de CO2.
• Soporte sol-gel para el recubrimiento de los colectores solares.
• Química de sólidos y catálisis.
• Estructura y propiedades ópticas, eléctricas y calorimétricas de semiconductores amorfos calcogenuros.
• Síntesis de Nanomateriales.
• Mineralogía, Arqueometría y Geoarqueología.
• Materiales constructivos y materias primas minerales.
• Patrimonio histórico y artístico.
• Síntesis, caracterización y propiedades mecánicas de sono-aerogeles híbridos inorgánicos/orgánicos.
• Estudios estructurales de geles.
• Aerogeles con aplicaciones medioambientales: captadores de CO2.
• Soporte sol-gel para el recubrimiento de los colectores solares.
• Química de sólidos y catálisis.
• Estructura y propiedades ópticas, eléctricas y calorimétricas de semiconductores amorfos calcogenuros.
INFRAESTRUCTURAS
• Difractómetro D8Advance (detector de centelleo y cargador de hasta 9 muestras).
• Difractómetro D8Advance A25 Davinci, con detector LINXEYE (detector dispersivo de energía unidimensional con sistema de filtrado de fluorescencia y radiación beta-K y hasta 150 veces más rápido que un detector de centelleo. Permite difracción de rayos X a bajo ángulo, muestras irregulares, haz rasante en películas delgadas y, el uso de rendijas fijas o variables).
• Espectrómetro FRX de dispersión de longitud de onda S4PIONEER.
• Espectrómetro micro-FRX de dispersión de energía M4 TORNADO.
• Molino HERZOG HSM 100H.
• Molino Retsch MM2.
• Perlado Claisse FLUXY.
• Horno mufla NANNETTI FM85.
• Prensa hidráultica NANNETTI Mignon SS.
• Difractómetro D8Advance A25 Davinci, con detector LINXEYE (detector dispersivo de energía unidimensional con sistema de filtrado de fluorescencia y radiación beta-K y hasta 150 veces más rápido que un detector de centelleo. Permite difracción de rayos X a bajo ángulo, muestras irregulares, haz rasante en películas delgadas y, el uso de rendijas fijas o variables).
• Espectrómetro FRX de dispersión de longitud de onda S4PIONEER.
• Espectrómetro micro-FRX de dispersión de energía M4 TORNADO.
• Molino HERZOG HSM 100H.
• Molino Retsch MM2.
• Perlado Claisse FLUXY.
• Horno mufla NANNETTI FM85.
• Prensa hidráultica NANNETTI Mignon SS.
Responsable Científico
Prof. Dr. Salvador Domínguez Bella
(+34) 956 016 396
Técnico
Luis Miguel Rodríguez Jaren
(+34) 956016183
Técnico
Juan José Merino Fernández
(+34) 956016395